1. Електронний архів КНУТД

Browsing by Author Chung, Stan

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Є Ж З И І Ї Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Э Ю Я
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 1 of 1
Issue DateTitleAuthor(s)
7-Nov-2024The reliability in IC industry: using thermal cycling tests to predict thermal fatigueChung, Stan
Showing results 1 to 1 of 1